Massenspektrometrie in der Oberflächenanalytik

Der Kurs macht mit den Grundlagen und Anwendungen der Oberflächen-Massenspektrometrie (SIMS, ToF-SIMS, SNMS) vertraut.

Im Einzelnen:

• Statische Sekundärionen-Massenspektrometrie ToF-SIMS (Imaging, spezifischer Nachweis von Verbindungen, Spektreninterpretation, …)

• Dynamische Sekundärionen-Massenspektrometrie SIMS (Tiefenprofilanalyse, 3D-Analyse)

• Sekundärneutrateilchen-Massenspektrometrie SNMS (Tiefenprofilanalyse)

Kursleitung: Dr. Michael Wahl (IFOS)

Ort: Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik IFOS
Trippstadter Straße 120, 67663 Kaiserslautern (Raum 05.08)

Kurstermin: 08.12.2015 von 9:30 Uhr bis 12:30 Uhr

Teilnehmerzahl: mindestens 5

Anmeldungen bis spätestens 27.11.2015 über:

Ulrike Asal
Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik GmbH
asal(at)ifos.uni-kl.de

Die Teilnahme ist kostenlos.