Fortbildungsseminar: Schicht- und Oberflächenanalytik

Innere und äußere Grenzflächen und -zonen spielen in der Oberflächentechnik, aber auch für viele andere Technologiebereiche eine wichtige, häufig die entscheidende Rolle. Für Produktentwicklung, Fehlersuche, Prozess- und Qualitätssicherung oder die Optimierung von technologischen Prozessen sind deshalb moderne Methoden der instrumentellen Oberflächen- und Schichtanalytik zu unverzichtbaren Werkzeugen geworden.

Das Fortbildungsseminar will mit den physikalischen und instrumentellen Grundlagen der Mikro- und Nanobereichsanalyse vertraut machen. Anhand von Beispielen aus der analytischen Praxis werden die Vorteile und der Nutzen aufgezeigt, den Unternehmen aus der Anwendung oberflächenanalytischer Methoden ziehen können. Die Teilnehmer werden über den aktuellen Stand und die Leistungsfähigkeit der wichtigsten Oberflächenanalysetechniken informiert. Außerdem wird das notwendige Wissen vermittelt, um die Methoden selbst auswählen und bewerten zu können, die zur Beantwortung von analytischen Fragestellungen aus dem eigenen Unternehmen geeignet sind.
Die Veranstaltung wendet sich an Ingenieure und Techniker, die in der Fertigung, in der Prozess- und Qualitätskontrolle sowie in der Material- und Produktentwicklung tätig sind.

Die Fortbildungsveranstaltung steht unter der fachlichen Leitung von:
Prof. Dr. Michael Kopnarski, Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik IFOS und TU Kaiserslautern.

Weitere Dozenten sind:
Dr. P. Albers, Evonik Technology & Infrastructure GmbH, Essen
Dr. W. Bock, Dr. A. Brodyanski, Dr. S. Emrich, Dr. J. Lösch, Dr. R. Merz, Dipl.-Ing. B. Reuscher, Dr. M. Wahl, IFOS, Kaiserslautern
Dr. U. Rothhaar, SCHOTT AG, Mainz
Dr. S. Hirth, BASF AG, Ludwigshafen
Prof. Dr. C. Ziegler, IFOS und TU Kaiserslautern

Ort: Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik GmbH der Universität Kaiserslautern, Trippstadter Straße 120, Raum Z05.08, 67663 Kaiserslautern

Kurstermin: 6./7.12.2017, ganztägig

Die Teilnahme im Rahmen des OPTIMAS-Kursprogramms ist kostenfrei.

Anmeldungen werden erbeten an:

Ulrike Asal, Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik GmbH
asal[at]ifos.uni-kl.de

Anmeldeformular

Weitere Informationen siehe Flyer