Instrumentelle Oberflächenanalytik
Der Kurs macht mit den physikalischen und instrumentellen Grundlagen der Mikro- und Nanobereichsanalyse vertraut. Anhand von Beispielen aus der analytischen Praxis werden die Vorteile und der Nutzen aufgezeigt, die in der Forschung aus der Anwendung oberflächenanalytischer Methoden gezogen werden können. Die Teilnehmer werden über den aktuellen Stand und die Leistungsfähigkeit der wichtigsten Oberflächentechniken informiert. Außerdem wird das notwendige Wissen vermittelt, um die Methoden selbst auswählen und bewerten zu können, die zur Beantwortung von analytischen Fragestellungen aus dem eigenen Bereich geeignet sind.
Themenübersicht:
• Grundlagen der Oberflächen- und Schichtanalytik
• Massenspektrometrie in der Oberflächenanalytik
• Tiefenprofilanalyse mit massenspektrometrischen Methoden
• Oberflächenanalyse mit elektronenspektroskopischen Verfahren
• Mikro- und Nanobereichsanalyse mit der Elektronenspektroskopie
• Atom-Probe: 3D Tomografie mit atomarer Auflösung
Kursleitung: Prof. Dr. Michael Kopnarski + Dr. Michael Wahl
Ort: Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik IFOS
Trippstadter Straße 120, 67663 Kaiserslautern (Raum 05.08)
Kurstermin: 08.12.2016 von 9:00-12:00 Uhr und 14:00-17:00 Uhr
Teilnehmerzahl: mindestens 5
Anmeldungen bis spätestens 30. November 2016 über:
Ulrike Asal
Institut für Oberflächen- und Schichtanalytik GmbH
asal(at)ifos.uni-kl.de
Die Teilnahme ist kostenlos. Wir freuen uns auf rege Teilnahme.